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渦流涂層測(cè)厚技術(shù)的基本原理和標(biāo)準(zhǔn)

一、渦流涂層測(cè)厚技術(shù)的基本原理 　　 現(xiàn)代工程材料開發(fā)與應(yīng)用實(shí)踐表明，鋁、銅、鋅等各種有色金屬材料及其合金材料在航空、建材、冶金、輕工、機(jī)械、儀表、化工等行業(yè)的廣泛應(yīng)用，往往都需借助氧化膜、油漆、噴塑、橡膠等表面覆蓋層的防腐保護(hù)，延長(zhǎng)其使用壽命。應(yīng)用電渦流技術(shù)開發(fā)的渦流涂鍍層測(cè)厚儀，則是無損測(cè)量上列非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的有效手段。 　　 渦流涂層測(cè)厚儀的基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)試樣接觸時(shí)，測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng)，使置于測(cè)頭下面的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)，即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù)，而測(cè)頭參數(shù)變量的大小則取決于涂鍍層的厚度。通過測(cè)量測(cè)頭參數(shù)變量的大小，并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理，即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度值。 二、渦流涂層測(cè)厚方法標(biāo)準(zhǔn)概況 　　 在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法》（等效采用標(biāo)準(zhǔn)ISO 2360-1982）中，對(duì)渦流測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)、操作程序和影響測(cè)量精度的因素及其注意事項(xiàng)作了詳細(xì)地闡 述。其中有關(guān)影響測(cè)量精度因素的條款，應(yīng)視作渦流涂鍍層測(cè)厚儀開發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件，這些影響測(cè)量精度的主要因素包括： 　　 1、覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。 　　 2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。 　　 3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。 　　4、渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。 　　 5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。 　　 6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量精 度，粗糙程度增加，影響增大。 　　 7、渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物，測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。 　　 以上各項(xiàng)要點(diǎn)，既嚴(yán)格規(guī)范了顧客實(shí)施測(cè)厚全過程的工作質(zhì)量，又為生產(chǎn)廠商提供了儀器開發(fā)必須遵循的設(shè)計(jì)依據(jù)，因而有力地促進(jìn)了渦流測(cè)厚技術(shù)的總體發(fā)展。